德國 GBS Metrology GmbH，自 1997 年創立以來，專注於 表面量測技術 的研發與製造，為全球領先的 白光干涉儀（White Light Interferometer） 與 3D 表面量測解決方案 供應商。
GBS 的核心技術結合 白光干涉術（Coherence Scanning Interferometry, CSI） 與 高效能 GPGPU 平行運算，能在極短時間內完成高精度量測，適用於實驗室研究、品質檢測與生產線上的 即時量測（inline metrology）。其產品能夠精確分析 微奈米結構、表面粗糙度與幾何形貌，廣泛應用於半導體、精密製造、光學元件與材料科學等領域。
主要產品
- 光學 3D 感測器：適用於非接觸式快速檢測
- 3D 光學輪廓儀：奈米級解析度的表面量測
- 量測設備與量測工作站：滿足大型樣品或生產現場的需求
特色產品線：smartWLI
「smartWLI」系列是 GBS 的代表性產品線，專為 微結構與奈米級表面量測 所設計，能精確捕捉從鏡面到高反光、傾斜或粗糙表面的細節，並提供高可靠性的量測數據。透過 GBS 的解決方案，使用者不僅能獲得 高解析度、高重現性 的量測結果，更能兼顧 效率與產線應用，是 研究單位與製造業 值得信賴的合作夥伴。
