精密量測新突破：smartWLI 白光干涉儀 — 奈米級精度 × GPU 百倍加速

量測實例表面粗糙度標準 Halle KNT 4070 Ra=25 nm

高反光、斜面、複雜表面皆可穩定測量
讓量測速度與準確度全面升級。

在精密製造與品質檢測中，您是否也面臨這些挑戰？

量測速度太慢，無法跟上產線節奏
表面高反光或傾斜，數據經常失真
平台移動造成誤差，導致結果不穩定

smartWLI 系列結合 GPU 平行運算與 D-EPSI 演算法，不僅在高反射與傾斜面上維持高水平解析度與垂直解析度，更透過 smartSTITCH 校正演算法，消除 XY 平台誤差，讓量測結果更準確且更穩定。AQC 噪訊濾除技術自動剔除受干擾像素點，提升訊號品質能夠清楚擷取輪廓。配合 smartVIS3D 軟體整合，自動化量測流程省時省工。